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SN74BCT8240ANTE4 /IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
SN74BCT8240ANTE4的规格信息
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图像仅供参考,请参阅规格书

标准包装:60

类别:集成电路 (IC)

家庭:逻辑 - 专用逻辑

系列:74BCT

包装:管件

逻辑类型:扫描测试设备,带反相缓冲器

电源电压:4.5 V ~ 5.5 V

位数:8

工作温度:0°C ~ 70°C

安装类型:通孔

封装/外壳:24-DIP(0.300",7.62mm)

供应商器件封装:24-PDIP

ROHS: 无铅

供应商SN74BCT8240ANTE4
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SN74BCT8240ANTE4SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS TI[Texas Instruments]TI[Texas Instruments]的LOGO473.0 Kbytes共26页SN74BCT8240ANTE4的PDF下载地址SN54BCT8244A,SN54ABT8245,SN54ABT8543,SN54ABT8652,SN54ABT8952,SN54BCT8245A,SN54BCT8373A,SN54BCT8374A,SN54ABT8646,SN54ABT18640
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